三綜合試驗箱
簡要描述：
本產(chǎn)品參照GB10592-89高低溫變化試驗箱，GB10586-89濕熱試驗箱相應(yīng)技術(shù)條件設(shè)計制造，與振動機連接做高低溫、濕熱及振動綜合試驗，主要為航天、、石油、化工、電工、電子、汽摩、五金、軍事、造船、通訊等科研單位的新產(chǎn)品研制、樣機試驗、產(chǎn)品合格鑒定之使用。
更新時間：2024-04-11
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| 品牌 | 艾思荔/Asli |
|---|
【三綜合試驗箱儀器簡介】
三綜合試驗箱又稱：溫濕度振動三綜合試驗箱，三綜合試驗機，復(fù)合式環(huán)境試驗箱，同時結(jié)合了溫度、濕度以及振動的檢測條件，適用于航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在溫度、濕度、振動環(huán)境下檢驗其各性能項指標(biāo)。
東莞艾思荔是三綜合試驗箱/溫濕度振動三綜合試驗箱環(huán)測設(shè)備的，技術(shù)水準(zhǔn)已*進(jìn)口產(chǎn)品，秉持[品質(zhì)至上，服務(wù)至上；邀您參與，共享共存]的經(jīng)營理念；同時設(shè)有在各個領(lǐng)域多個區(qū)域的服務(wù)機構(gòu)；是三綜合試驗箱/溫濕度振動三綜合試驗箱環(huán)測設(shè)備的專業(yè)制造企業(yè)。
【三綜合試驗箱用途】
綜合環(huán)境試驗系統(tǒng)主要氣候箱和振動試驗臺的綜合，對試件施加溫度、濕度、振動應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗與可靠性試驗。與單一因素作用相比，更真實地反映電工電子產(chǎn)品在運輸和實際使用過程中對環(huán)境變化的適應(yīng)度，產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制，樣機試驗到產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。系統(tǒng)能夠產(chǎn)生溫度、濕度、振動的綜合環(huán)境，也可以產(chǎn)生單獨的溫度、濕度振動等環(huán)境。
設(shè)備型號：THV-容量
Temperture Humidity Vidration Tester
《可按客戶要求非標(biāo)訂制更多產(chǎn)品》
技術(shù)參數(shù)
1、溫度范圍：（0、-20、-40、-70）～+150℃
2、濕度范圍：30～98%RH
3、溫度均勻度≤±2.0℃
4、溫度波動度≤±0.5℃
5、濕度波動:+2-3％RH
6、降溫速率：0.7℃～1℃（空載狀態(tài)下）
7、升溫速率：1～3℃（空載狀態(tài)下）
8、振動類型：電磁式振動
9、振動頻率：2～（100 HZ、200HZ、400HZ、500HZ）
10、振幅：0-5mm
11、振動加速度：0-20Gg
設(shè)備執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
GB10586-2006濕熱試箱技術(shù)條件
GB10589-2006低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2006高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.3-1993試驗Ca: 恒定濕熱試驗
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
GB/T2423.49-1997 、GB/T 2423.48-1997 、GB/T2423.10-1995
Temperture Humidity Vidration Tester
《可按客戶要求非標(biāo)訂制更多產(chǎn)品》
技術(shù)參數(shù)
1、溫度范圍：（0、-20、-40、-70）～+150℃
2、濕度范圍：30～98%RH
3、溫度均勻度≤±2.0℃
4、溫度波動度≤±0.5℃
5、濕度波動:+2-3％RH
6、降溫速率：0.7℃～1℃（空載狀態(tài)下）
7、升溫速率：1～3℃（空載狀態(tài)下）
8、振動類型：電磁式振動
9、振動頻率：2～（100 HZ、200HZ、400HZ、500HZ）
10、振幅：0-5mm
11、振動加速度：0-20Gg
設(shè)備執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
GB10586-2006濕熱試箱技術(shù)條件
GB10589-2006低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2006高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.3-1993試驗Ca: 恒定濕熱試驗
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
GB/T2423.49-1997 、GB/T 2423.48-1997 、GB/T2423.10-1995
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